半导体芯片冷热冲击试验箱 温度冲击试验箱 制造商
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产品描述

型号TS-49A/80A/150A/252A 电源380V 包装木箱 温度范围-40~+150度 材质不锈钢
我们研发的仪器设备包括冷热冲击试验箱(两槽或三槽)、恒温恒湿试验箱、高低温试验箱、PCT高压老化试验箱、快速温变试验机、高压加速老化试验箱PCT/HAST,紫外线老化试验箱步入式恒温恒湿房、三综合试验箱、高温老化房、真空高温箱、高温烤箱、盐雾试验箱、电式振动试验机、跌落试验机、拉力系列等仿真环境试验设备。多年来,凭借着精湛经验,完善的售后服务一直被消费者所深信支持。其产品广泛用于航天、、电子电器、LED光电、太阳能光伏、稀土本着"遵循标准,品质"的品质文化。服务于社会大众,为广大的消费者提供的产品和服务。帮助客户提升品质,降低成本,增强市场竞争力。注重人才的培养与呵护,长期以来培养了很多优的团队,为社会做出微薄的贡。广东艾思荔仪器设备适应社会的发展变化,不断地创新迎合客户的需求,本着于客户共赢的认真负责做好每一关的把控。
冷热冲击试验箱产品特性:
1.产品外形美观、结构合理、工艺、选材考究。
2.设备分为高温室、低温室、测试室三部分,采特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
3.采用触控式液晶(LCD)显示人机介面控制器,的计测装置,操作简单,学习容易,稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。
4.具96个试验规范立设定,冲击时间999小时59大分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
5.箱体左侧具Ø50mm测试孔1个,可供外加电源负载配线测试部件。
冷热冲击试验箱控制系统:
高温冲击3箱:Rt℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN
低温冲击3箱:RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN
高温冲击2箱:-40℃~ +150℃/5 MIN  -55℃~ +150℃/5 MIN  -65℃~ +150℃/5 MIN
低温冲击2箱:+150℃~ --65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN
预热时间:25MIN  30MIN  45MIN  40MIN  50MIN  40MIN   50MIN
预冷时间:60MIN  75MIN  80MIN  85MIN  85MIN  90MIN   100MIN
预热温度:+ 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃
预冷温度: - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃
高温冲击: + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃
低温冲击:-10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃
温度分布均匀度:±2.00℃ 以内(UNDER ±2.00℃)
仿真负载(KG):2.5  2.5  5  5  5  5   10.0
半导体芯片冷热冲击试验箱
箱体结构
冷热冲击试验箱全部功能采用计算机控制,系自主开发的软件,有良好的操作界面,使用户的操作界面,使用户的操作和监测都更加简和直观,保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下,可以临时更改此程序段的数值,可以在屏幕上设置时间的参数,使制冷、加热、提篮传送切换,按设定值自动进行。冷箱、热箱立控制,箱门互相立,扩大试验箱的使用围(一箱三用)产品保温效果可以得到充分保证。
控制系统
冷热冲击试验箱主控制器采用进口双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏,可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态,PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式,仅需设定温度,就可实现制冷机自动运行功能,控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警,配置485通讯接口及运行软件。
设定精度:温度:0.1℃ 时间:1S用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行,恒定运行。立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。温度恢复时间小于等于5分钟。
制冷系统
冷热冲击试验箱制冷系统及压缩机:为了保证试验箱降温速率和低温度的要求,本试验箱采用一套进口法国全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环,其连接容器为蒸发冷凝器,蒸发冷凝器也到能量传递的作用,将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去,实现降温的目的,制冷系统的设计应用能量调节技术,一种行之有效的式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节,使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。制冷工作原:高冷循环均采用逆循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。
其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
R404A(高温循环)、R23(低温循环);
半导体芯片冷热冲击试验箱
冷热冲击试验箱性能参数系统:
1.采用进口微电脑大型液晶LCD(320 x 240 Dots)中英文显示控制系统。
2.高程序记忆容量,可设定储存 120 组程序,大循环设定 9999 Cycles,每段时间大设定 999 Hrs 59Mins。
3.具有RS-232通讯界面及连接软件,可于电脑荧幕上设计程序、收集测试资料与记录、呼叫程序执行、可实现远程控制。
4.可立设定高温、低温、及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或二槽式之功能,具备高低温试验箱的功能。
5.可在预约开机时间控制中自动提前预热、预冷待机,并可选择起始位置,由高温或低温开始循环或温度冲击,另具备设定循环次数扩自动除霜功能。
6.出风口与回风口传感器检知控制,风向栅门机构切换时间为10s内完成,冷热冲击温度恢复时间为5min钟内完成。
7.具有温度线怀直流信号输出到温度记录器,以了解测试条件之状态,进而提高检测信赖度。
8.运转中发行异常状况,荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法,并于发现输入电力不稳时,具有紧急停机装置。
9.冷冻系统采用二元式低温回路系统设计,采用进口压缩机组,并使用环保冷媒。
半导体芯片冷热冲击试验箱
冷热冲击试验箱符合标准:
GJB367.2-87 405温度冲击试验。
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
GB/T 2423.22-2002温度变化
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
GB/T2423.1-2001低温试验方法
GB/T2423.2-2001高温试验方法
三箱式/两箱式冷热冲击试验箱的区别
近几年,大部分的客户问着同样的一个问题,问:“到底是三箱式的冷热冲击试验箱好,还是两箱式的冷热冲击试验箱好”,那么到底哪个更好呢?
1、先我们来谈谈两箱式/提篮式的冷热冲击试验箱的技术以及生产的年代,两箱式冷热冲击试验箱生产于80年代末期及90年代初期,按照现在的年代来算,也就是两箱式冷热冲击试验箱试验箱是属于三十年以前的技术,我们都知道三十年以前的技术都有很多的漏洞,在加上没有创新的精神导致了提篮式冷热冲击试验箱不受欢迎的重要原因之一,其次提篮式冷热冲击试验箱在测试样品时,样品是动态的,而在做高温或者低温时是需要移动我们的样品才能达到温度冲击的效果,因此有不少客户认为上升及下升时精度会受到轻微的影响,既然会有所影响,就须进行设备的改进, 因为做测试是为了产品质量达到更好的境界,如设备本身就不合格,那么客户做这样的测试岂不是白做了,所以两箱式冷热冲击试验箱才慢慢的走上了淘汰之路。
2、三箱式冷热冲击试验箱为气动式的,三箱式冷热冲击试验箱主要分为部分:高温储槽区,样品测试区,低温储槽区,那么在测试温度冲击时,只需要打开气动阀门即可,测试高温就把高温的阀门打开,测试低温就打开低温的阀门,而我们的测试样品一直都为静态,相对来说准确度高,不会有丝毫的误差。而且使用简单方便快捷,客户也很认可,因此三箱式优势完全胜过两箱式,所以取而代之的三箱式就成为如今所有客户的重要焦点。
http://asli163.cn
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