齐齐哈 HAST非饱和老化试验箱

高压加速老化试验箱是一款可实现高温、高压、高湿等实验条件的加速老化箱，属特种压力设备，大大加快了客户对产品老化情况的了解，主要零部件国外进口保修一年。
试验箱产品特色：
1、具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动。
2、试验过程自动运转至完成结束，使用简便。
3、温度控制：LED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示。
4、定时器：LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
5、Jing准的压力/温度表随时显示锅内压力与相对温度。
6、运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到好的蒸气品质。
7、一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
8、内经抛光处理美观不沾污。

技术性能指标：
1、温度范围：＋110℃～＋132℃。
2、温度波动度：±0、5℃。
3、温度均匀度：±1、5℃。
4、湿度范围：R、H饱和蒸气。
5、湿度波动度：±1、5%R、H。
6、湿度均匀度：±3、0%R、H。
7、压力范围：
相对压力：+0～2kg/cm2。（注：可生产压力范围：+0～3kg/cm2）。
Jue对压力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全压力容量：4kg/cm2＝1个环境大气压＋3kg/cm2。
8、循环方式：水蒸气自然对流循环。
9、测时间设置：0～999Hr。
10、加压时间：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2约30分钟。
12、升温时间：由常温升至＋132℃约30分钟非线性空载。
13、温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。
14、试验内箱体积供选择：
注：
1、在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
2、关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。
3、温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
4、温湿度均匀度定义为：实验室几何中心点处，温湿度时的所测之资料。
5、以上数据性能，测量，计算方法参照GB5170、2、GB5170、5的方法测定。

试验箱性能：
1.温度范围:100℃~135℃可设定.
2.湿度范围:RH.(饱和蒸气湿度) 
3.压力范围:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue对压力;(安全压力容量3Kg/cm2/G=1个环大气压+2Kg/cm2)
4.时间范围:0~1000H
5.温度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升温时间:RT~121℃约35分钟内
7.加压时间:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2约35分钟内

试验箱结构: 
1.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.  
2.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次手动加水可连续运转1H;自动加水可连续运转999H;  
3.自动门禁,圆型门自动温度与压力安全检知、门禁自动锁定控制系统,采用安全门把设计,内箱有大于正常压力时测试门会被反压保护而打不开.保护操作人员安全。  
4.型packing,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命.  
5.实验开始前之真空动作可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing  ＜1micom.以确保箱内之纯净度.  
6.保修期：机器全系统保固壹年(天灾或人为因素造成损坏不在此限),终身维护.  
7.交货期限:签订合同定金确定后3（现货）个工作日.需方工厂交货,我司提供免费包装、运输人员培训、安装、调试等费用.
高压加速老化试验箱详细说明：
    随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工会）所标准化。
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