集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱

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艾思荔集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱採用智慧型温控仪、PID自动温算，LcD显示，配合SSRLSLRI输出；特殊网路设计，加热温度均匀；箱体外表温度低，耐高温硅胶迫紧；应用于半导体、精密陶瓷、晶板、电子元器件、电感、綫圈、音圈、磁性元件、微型电机、手机、电脑、通讯器材、印刷等工业生产领域。

集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱规格：

型号M  内尺寸WxDxH/mm  外尺寸WxDxH/mm

型号:TS-49  400×350×350  1400×1800×1400

型号:TS-80  500×400×400  1550×1950×1550

型号:TS-150  600×500×500  1600×2000×1700

型号:TS-252  700×600×600   1700×2100×1750

型号:TS-450  800×750×750   1800×2200×1900

型号:TS-900  1000×900×900   2100×2400×2200

集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱特点：

採用智慧型温控仪、PID自动温算，LcD显示，配合SSRLSLRI输出；

内箱採用sus镜面不銹钢板製作；

特殊网路设计，加热温度均匀；

箱体外表温度低，耐高温硅胶迫紧；

规格尺寸可根据实际需求订做。

集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱产品详细信息：

集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱是能对电子，电工，五金，数码，电池，LcD，化工，塑胶等各工业产品，进行50℃、200℃、300℃高温检测和试验的理想设备。品牌集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱，无论是从外观，还是内箱设计，技术性能，多用于一些大中型企业产品检测和试验之用。

广东艾思荔检测仪器有限公司秉承“专业创造品质、服务传递价值”的经营理念，每年研发中心推出新产品二十余种，并对现有产品不断完善、创新，以期大限度满足用户需求。更多艾思荔检测仪器集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱箱详情请联系我们。