半导体相关试验设备(冷热冲击试验箱)的测试标准介绍

半导体应用广泛，相关的试验设备有多种，下面简单介绍下常见半导体试验设备的标准如下：

1.温度循环（冷热冲击试验箱）参考标准：JESD22-A104

温度范围：-65℃~150℃

低温冲击：-40℃，-55℃，-65℃

高温冲击：65℃，85℃，125℃

温度冲击时间小于3min，1min

温度保持时间30min，60min

测试时间不能少于1000个循环

2.热压器/无偏压 HAST测试 参考标准：JESD22-A118

温度范围：100℃~143℃

湿度范围：70%RH~100%RH

压力范围：0.5kg~3.5kg

测试时间不能少于200小时，具体根据用户实际要求，有些需要达到500小时到1000小时等不同时间

3.其他测试标准：GB/T 2423.1-2001  试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法，GJB 150.3-1986 高温试验， 低温试验， GB 11158《高温试验箱技术条件》， IEC60068-2-14等测试标准，如需了解更多测试标准请来电咨询。