HAST非饱和型老化试验箱的基础介绍

HAST非饱和型老化试验箱适用于、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.

1.HAST非饱和型老化试验箱设备参数范围?

答：蒸汽温度范围：100～135℃(143℃为特殊选用型)，蒸汽湿度范围：75%～100%RH，气压范围：0.1～0.296Mpa.

2.什么是HAST非饱和型老化试验箱测试?

答：高压蒸煮测试即为高温，高湿，高气压测试

3.为什么要做HAST非饱和型老化试验箱测试?

答：做高压蒸煮的目的是验证产品在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速产品的失效过程

4.HAST非饱和型老化试验箱测试标准有哪些?

答：实验室常用高压蒸煮测试标准为：

JESD22-A102-C-2000加速抗湿性能测试(未饱和气压)

JESD22-A110-B-1999高加速温度湿度应力测试

5.HAST非饱和型老化试验箱主要测试样品类型?

答：高压蒸煮主要针对非密封性的固体样品进行测试。

HAST非饱和型老化试验箱测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于对电工、电子产品，元器件、零部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试，测试后，通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。