数显恒温恒湿试验箱满足标准：
1.GB10589-89低温试验箱技术条件  
2.GB11158-89高温试验箱技术条件  
3.GB10592-89高低温试验箱技术条件  
4.GB2423.1低温试验、试验A  
5.GB2423.2高温试验、试验B  
6.GB2423.22温度变化试验、试验N  
7.IEC68-2-14试验N  
8.国军标GJB150.3-86  
9.国军标GJB150.4-86  
10.GB2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法  
11.GB2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法  
 
数显恒温恒湿试验箱设备说明：
该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制
设备型号：TS-50 500×400×350（长×宽×高）
温度冲击型:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃
D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃  
 
数显恒温恒湿试验箱技术参数及详细配置：
技术参数
冲击方式：两箱式或三箱式（用户自选）
工作室温度冲击范围:A型-20℃～+150℃  B型-30℃～+150℃C型-40℃～+150℃  D型-50℃～+150℃  E型-60℃～+150℃F型-70℃～+150℃ 
高温室温度范围:60℃～150℃、 升温时间≤45分钟
低温室温度范围:根据用户选择的型号,降温时间≤45分钟
温度波动度：≤±0.5℃
高温室温度偏差：≤±2℃
低温室温度偏差：≤±2℃
温度恢复时间钟： ≤5分
工作室转换时间：≤10秒
 
数显恒温恒湿试验箱冲击转换方式：两箱式为试件选择环境转换,三箱式为环境选择试件转换
高温室尺寸：700×700×350（深×宽×高）单位mm（LCR-50A）
低温室尺寸：700×700×350（深×宽×高）单位mm（LCR-50A）